QUANTAX ED-XS
QUANTAX ED-XS
The Cost-Effective Solution for Material Characterization using EBSD and EDS Analysis
QUANTAX ED-XS

Apr 30, 2024 | 11 a.m. PDT | 2 p.m. EDT

QUANTAX ED-XS: EBSD ve EDS Analizi ile Malzeme Karakterizasyonu için uygun maliyetli çözüm

Bu webinarda, kombine EDS ve EBSD sistemi QUANTAX ED-XS' in yüksek performansını göstereceğiz.


Kristal malzemelerin mikroyapılarının karakterizasyonu için, Enerji Dağılımı Spektroskopisi (EDS) ve Elektron GeriSaçılım Difraksiyonu (EBSD) kombinasyonu anahtar bir yaklaşımdır. Bu kombine metod, araştırmacıların kimyasal ve kristolografig bölgesel farklılıklarını ve varolan fazları tanımlamasını ve ayırmasını sağlar

Bruker'ın uygun maliyetli QUANTAX ED-XS EDS & EBSD sistemi, giriş-seviyesindeki büyük SEM kullanıcısı topluluğunun, akademik araştırmada ve endüstride EDS ve EBSD tekniklerinin gücünden yararlanarak lab kaynaklarını optimize etmelerini sağlar.


Bu hedefe ulaşmak için, Bruker yüksek verimlilik oranlarına ve hafif element dedeksiyon kapasitesine sahip 30 mm2 XFlash® Silicon Drift Detector ile yeni üretilmiş en güvenilir ve uygun maliyetli CMOS-tabanlı EBSD dedekterü  e-Flash XS 'i entegre etti. Bu çözüm EDS ve EBSD analizlerinin kantitatif ve kalitatif yapılması için gerekli tüm fonksiyonelliği, ESPRIT yazılımı içinde entegre ederek sağlar.


Bu webinarda, sistemin yüksek performansını seramik, minerolojil ve deforme alaşımlar gibi farklı uygulama örnekleriyle göstereceğiz.

Daha fazla detay için: Bruker.com

 

EKLENME TARİHİ 30.04.2024
iMag sağlanan hizmetlerin iyileştirilmesi ve web sitesinde en iyi deneyimi yaşamanızı sağlamak için çerezleri kullanır.
close