Çubuk veya koni biçimli numuneleri kabul eder ve bunları tutucunun ekseni etrafında 360º tam olarak döndürür. Eksik kama nedeniyle bilgi kaybı olmadan 360° görüntü edinimi ve tomografik yeniden yapılandırmaya izin verir.

Tek eksenli tomografi genellikle eksik bir bilgi kamasıyla sonuçlanır ve çift eksenli tomografi eksik bir bilgi piramidiyle sonuçlanır. Eksen üstü rotasyon tomografisi herhangi bir bilgi kaybı olmadan sonuçlar verir, böylece numuneden elde edilebilecek maksimum veri miktarını sağlar.

On-axis Rotasyon Tomografi Tutucusu, içine bir numune kartuşunun yerleştirildiği silindirik bir numune kartuşuna sahiptir. Numune kartuşları, yaygın atom prob alan iyon mikroskobu (APFIM) numunelerini kabul etmek için 1,8 mm çapında veya odaklanmış iyon demeti (FIB) hazırlanmış numuneleri kabul etmek için 1 mm çapında mevcuttur.

FIB kaldırma teknikleri, kalın bir numuneyi numune direğinin ucuna taşımak ve tutturmak için kullanılır. Daha sonra numune, bir çubuk veya koni şekline ve elektron şeffaflığına FIB ile daha fazla frezelenir. Numune direği numune kartuşuna kelepçelenir. Numune kartuşu, tutucunun gövdesine tam olarak oturur ve mikroskobun ösentrik düzlemiyle tam olarak hizalanır. Kartuş, hem tutucunun ekseni boyunca hareket eden hem de dönen bir mekanizmaya sıkıca tutturulmuştur.

Özel bir yükleme istasyonu, kartuşun tutucuya yerleştirilmesini kolaylaştırır. Eksen Üstü Dönme Tomografi Tutucusu yükleme istasyonundan çıkarıldığında, kartuş mekanik olarak tutucuya kilitlenir.

Başlangıçta, numune uygun numune yönünü seçmek için 360° tamamen döndürülebilir. Daha sonra, numunenin tutucuya göre sürekli dönüşünü sabitleyen bir durdurucu devreye girer. Üç konumlu hassas indeksleme mekanizması, numuneyi 120° artışlarla yönlendirmek için araçlar sağlar. Her artışta, numunenin tutucuya göre konumunu sabit tutarken, mikroskobun gonyometresi bir tomografik eğim serisi elde etmek için ±60° eğilir. Numunenin dönüşünü iki kez daha 120° indekslemek, ±60° gonyometre eğimiyle birleştirildiğinde, numunenin 360° dönüşüne karşılık gelen veriler elde edilir. Bu prosedür, tek bir numuneden elde edilen tomografik veri miktarını en üst düzeye çıkarır.

Tutucuyla birlikte bir tutucu yükleme standı, bir Model 9010 Vacuum Storage Container, bir kartuş yükleme istasyonu, 1,8 mm ve 1 mm kartuşlar, 1 mm numune direkleri (10'lu paket), FIB saplama tertibatı ve iki tip cımbız (Dumont #3 ve Dumont 2E1/8) bulunur.

* Odaklanmış iyon demeti (FIB) aletiyle hazırlanan numuneler için idealdir
* Atom prob tomografisi (APT) ve alan iyon mikroskobu (FIM) numuneleri için idealdir
* Üç konumlu endeks, numunenin hassas eksenel dönüşüne izin verir
* pole-piece gap geometrileriyle uyumludur
* Mikroskobun, kutup teması meydana gelmesi durumunda gonyometre hareketini durduran dokunma alarmıyla uyumludur

Hem JEOL hem de Thermo Fisher Scientific mikroskopları için mevcuttur.